搜索结果: 1-12 共查到“电子科学与技术 电子设备”相关记录12条 . 查询时间(0.079 秒)
本实用新型涉及一种可调型电子设备恒电压梯度保护器，该电压梯度保护器是由内置电源、供电测试模块、高低压同步转换模块、显示模块、高压继电器、低压继电器，高压压敏电阻、低压压敏电阻，高压电压比较器和低压电压比较器组成，该保护器桥接于外界电源和用电设备之间，外界电源电压稳定在电压梯度内时保证用电设备正常工作。当外界电源电压过低时，低压压敏电阻发生变化，导致低压电压比较器发生反转，显示模块中的低压信号指示灯...
新加坡科学家通过收集WiFi信号为小型电子设备无线充电
WiFi 无线充电 STOs 微型智能
2021/6/18
随着数字时代的兴起，在设备之间无线传输信息的WiFi源数量呈指数级增长。这使得WiFi使用的2.4GHz射频得到广泛应用。但当人们不使用WiFi访问互联网时，它们就处于非活跃状态，造成巨大的信号资源浪费。为了充分利用这种闲置能源，新加坡国立大学电机与电脑工程系郭永新教授的研究团队和日本东北大学深见俊辅教授的研究团队合作开发了一种新技术，运用一款名为“自旋转矩振荡器”(STOs)的微型智能设备来收集...
面向电子设备故障预测与健康管理(Prognostics and Health Management,PHM),基于自适应谱峭度与核概率距离聚类提出一种振动载荷下板级封装潜在故障特征提取与模式辨识方法.首先,基于最大谱峭度原则利用经验模态分解的方法对电子组件的应变响应数据进行滤波,计算并重构包含潜在故障信息的包络谱形成故障征兆向量;其次,应用高斯径向基核函数概率距离方法,将非线性故障征兆数据映射到高...
美国研制出新型“MIIM”二极管 可用于制造复杂微电子设备
美国 MIIM二极管 微电子
2013/9/13
2013年9月4日报道,美国俄勒冈州立大学（OSU）的研究人员在提高金属-绝缘体-金属(MIM)二极管的功能方面取得了显著进步,他们研制出了一种性能更加优异的金属-绝缘体-绝缘体-金属(MIIM)二极管。未来，人们有望使用这些MIIM二极管制备出高性能的微型电子产品。研究发表在最新一期的《应用物理学快报》杂志上。
航天电子设备多余物检测信号特性的影响因素分析
频谱分析 正交试验法 微粒识别
2013/4/17
依据微粒碰撞产生声波的机理，运用频谱分析法，系统地研究航天电子设备多余物噪声检测过程中各操作变量和微粒物理参数对声波频谱的影响。通过单因素试验，详细分析了微粒粒径、微粒材质属性、振动力学条件中加速度和频率等4个因素对声音信号频谱分布的影响规律。同时，采用正交试验法确定了关键影响因素为微粒材质属性，并提出了微粒材质和粒径识别的可行性。该结果为进一步识别多余物微粒的参数提供了指导依据。
电子设备健康状态评估与故障预测方法
故障预测 流行学习 特征提取 隐半马尔可夫模型
2012/5/23
针对电子设备的健康性能退化问题，提出一种改进流形学算法与隐半马尔可夫模型(hidden semiMarkov model， HSMM)相结合的电子设备健康评估与故障预测方法。首先，在有监督邻域保持投影(supervised neighborhood preserving projection， SNPP)算法中引入非相关约束并加入核函数形成核有监督非相关邻域保持投影(kernel supervi...
砷化铟可替代硅制造未来电子设备（转发）
砷化铟 硅制造 电子设备
2010/11/25
据美国物理学家组织网11月23日（北京时间）报道，美国能源部劳伦斯伯克利国家实验室和加州大学伯克利分校的科学家成功地将厚度仅为10纳米的超薄半导体砷化铟层集成在一个硅衬底上，制造出一块纳米晶体管，其电学性能优异，在电流密度和跨导方面也表现突出，可与同样尺寸的硅晶体管相媲美。该研究结果发表在最新一期《自然》杂志上。
砷化铟可替代硅制造未来电子设备（转发）
砷化铟 硅 未来电子设备
2010/11/25
据美国物理学家组织网2010年11月23日（北京时间）报道，美国能源部劳伦斯伯克利国家实验室和加州大学伯克利分校的科学家成功地将厚度仅为10纳米的超薄半导体砷化铟层集成在一个硅衬底上，制造出一块纳米晶体管，其电学性能优异，在电流密度和跨导方面也表现突出，可与同样尺寸的硅晶体管相媲美。该研究结果发表在最新一期《自然》杂志上。
2010年5月10日，中科院北京分院、南京分院与江苏省盐城市人民政府共同签署《关于加强全面合作的协议》，中科院副院长、中科院北京分院院长丁仲礼，南京分院院长周健民，北京分院副院长马扬，微电子所党委书记李培金、微电子所八室主任夏洋、江苏省科技厅副厅长凤穗、盐城市市长李强出席签约仪式。
丁仲礼首先代表中科院向江苏省和盐城市对中科院长期以来的支持表示感谢。他指出，中科院将以合作协议的签署为契机，组织...
基于GO法的航空电子设备可靠性评估
GO法 电子设备 可靠性 Monte-carlo法
2009/8/20
针对传统电子设备在可靠性评估中存在精度和效率较低问题，提出一种基于GO法的可靠性评估方法。该方法引入状态累积概率，建立考虑共有信号处理的GO模型，给出某航空电子设备监测模块基于GO法的可靠性评估实例。与传统Monte-carlo方法进行比较，结果证明该方法更简单、直观，具有更高的计算精度、仿真效率，且更容易解决复杂多态、时序问题。