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电子设备健康状态评估与故障预测方法
故障预测 流行学习 特征提取 隐半马尔可夫模型
2012/5/23
针对电子设备的健康性能退化问题，提出一种改进流形学算法与隐半马尔可夫模型(hidden semiMarkov model， HSMM)相结合的电子设备健康评估与故障预测方法。首先，在有监督邻域保持投影(supervised neighborhood preserving projection， SNPP)算法中引入非相关约束并加入核函数形成核有监督非相关邻域保持投影(kernel supervi...
砷化铟可替代硅制造未来电子设备（转发）
砷化铟 硅制造 电子设备
2010/11/25
据美国物理学家组织网11月23日（北京时间）报道，美国能源部劳伦斯伯克利国家实验室和加州大学伯克利分校的科学家成功地将厚度仅为10纳米的超薄半导体砷化铟层集成在一个硅衬底上，制造出一块纳米晶体管，其电学性能优异，在电流密度和跨导方面也表现突出，可与同样尺寸的硅晶体管相媲美。该研究结果发表在最新一期《自然》杂志上。