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中国科学技术大学研制出可拓展成像质量光学元件（图）
光学显微镜 暗场显微成像 全内反射成像 光学显微图像
2021/12/5
记者从中国科学技术大学获悉，近期该校张斗国教授研究组研制出一种基于光学薄膜的平面型显微成像元件，用于被测样本的载玻片，可在常规的明场光学显微镜上实现暗场显微成像和全内反射成像，获取高对比度的光学显微图像。利用光学原理，光学显微镜可把人眼不能分辨的微小物体放大成像。常规的光学显微镜是明场显微镜，它利用光线照明和样本中各点依其光吸收的不同，在明亮的背景中成像。但对于一些未经染色处理的生物标本或其他透明...
中国科大研制一种基于光学薄膜的平面型显微成像元件（图）
基于光学薄膜 显微成像元件
2021/11/29
2021年11月29日，中国科大物理学院光电子科学与技术安徽省重点实验室/合肥微尺度物质科学国家研究中心张斗国教授研究组提出并实现了一种基于光学薄膜的平面型显微成像元件，用作被测样本的载波片，可在常规的明场光学显微镜上实现暗场显微成像和全内反射成像，而获取高对比度的光学显微图像。研究成果以“Planar photonic chips with tailored angular transmissi...
近日，中国科学技术大学物理学院光电子科学与技术安徽省重点实验室/合肥微尺度物质科学国家研究中心张斗国教授研究组提出并实现了一种基于光学薄膜的平面型显微成像元件，用作被测样本的载波片，可在常规的明场光学显微镜上实现暗场显微成像和全内反射成像，而获取高对比度的光学显微图像。研究成果以“Planar photonic chips with tailored angular transmission fo...
近日，安徽省光电子科学与技术重点实验室张斗国教授研究组提出并实现了一种基于光学薄膜的平面型显微成像元件，用作被测样本的载波片，可在常规的明场光学显微镜上实现暗场显微成像和全内反射成像，而获取高对比度的光学显微图像。研究成果以“Planar photonic chips with tailored angular transmission for high-contrast-imaging devi...
近日，中国科学院西安光学精密机械研究所光子功能材料与器件研究室王鹏飞研究员带领高通量辐射防护材料与技术课题组，成功研制出具有宽谱高效电磁屏蔽光学窗口元件。该款光学窗口元件在1-18 GHz范围内的电磁屏蔽效能平均数值>50 dB，其可见光-近红外透光率>80%，元件尺寸可达350 mm口径以上。
中国科学院上海光学精密机械研究所在激光抛光熔石英元件方面取得新进展（图）
激光 抛光 熔石英元件
2020/11/6
近期，中国科学院上海光学精密机械研究所精密光学制造与检测中心研究团队结合化学深刻蚀和激光抛光对精磨后的熔石英玻璃进行加工，获得了具有超光滑表面和高激光损伤阈值的熔石英元件。相关研究成果发表于Optics Letters。
光学成像系统已广泛地应用于我们生活的各个方面，从安防监控到自动驾驶，从手机摄影到最近的疫情防控，光学成像系统都是其中的核心部件。当前光学成像系统都基于折射光学元件构建，为了实现高性能成像，通常需要复杂的光学镜头，导致系统长度长、重量重。例如目前手机相机的光学镜头，因其长度难以缩小而凸出于手机后壳。衍射光学元件（DOE）具有的平面化、轻薄、轴外像差小等特性，与先进的计算成像技术相结合，有望实现平面化...
中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学与光电技术实验室研究团队近期成功制备出具有特殊结构的衍射光学元件皮米梳，其衍射场具有长景深、低发散角、高对比度的特征。实验中将该衍射场作为三维测量系统的投影结构光，成功重建出若干物体的外形轮廓信息。该方法为远距离三维测量提供了一种有效的解决方案，相关成果已经发表在[Applied Optics Vol. 59 Issue 17, 5234-5239]上。
中国科学院上海光学精密机械研究所提出一种基于静态多平面相干衍射成像的大口径光学元件相位缺陷检测新方案（图）
中国科学院上海光学精密机械研究所 静态多平面相干 衍射成像 大口径光学元件 相位缺陷 检测新方案
2020/5/9
近期，中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光物理联合实验室朱健强研究员团队在大口径光学元件的相位缺陷检测研究方面取得新进展，提出了结合暗场成像和静态多平面相干衍射成像的新型检测方案，相关成果于5月7日发表于《应用光学》(Applied Optics)。
中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学与光电技术实验室周常河课题组近期将双目测量和时域散斑技术相结合，应用于300mm口径大尺寸透镜毛坯测量，成功重建出透镜毛坯表面的三维形貌。该方法实现了大尺寸透镜的快速、低成本测量，相关成果发表在Optics Express 27,10898(2019)上。大尺寸光学元件，尤其是非球面元件，被广泛运用在大型激光装置，例如“神光”II综合实验激光装置中。在元件的...
随着现今微光机电系统技术的迅猛发展，人们对光学成像系统的要求越来越高，如导航系统、微型广角监视设备、内视镜等领域，希望整个系统的体积小、重量轻、视场大以及灵敏度高。新型的仿生复眼成像系统，利用光电元件代替昆虫复眼中的对应结构，将对系统的探测感知能力带来革命性提高，从而为导航系统、微型广角监视设备、内视镜等装置提供全新的技术手段。仿生复眼成像系统的核心器件之一为小型化、集成化的仿生复眼光学元件。通过...
中国科学院上海光学精密机械研究所参与项目“强激光光学元件表面缺陷精密检测技术及应用”荣获2017年度安徽省科技进步奖一等奖（图）
强激光 光学元件 表面缺陷 精密检测技术 2017年度 安徽省 科技进步奖 一等奖
2018/3/1
2018年2月23日，安徽省科学技术奖励大会在合肥召开。安徽省委书记李锦斌、中科院院长白春礼为重大科技成就奖获得者颁奖，中科院副院长相里斌出席大会。上海光机所作为第二完成单位、邵建达研究员作为第一完成人的项目”强激光光学元件表面缺陷精密检测技术及应用”荣获安徽省科技进步奖一等奖。根据安徽省科学技术厅最近发布的《2017年安徽省科学技术奖励评审委员会评审结果公告》，安徽省科学技术奖共评定一等奖18项...
中国科学院自动化研究所实现大口径光学元件表面微粒在线检测
中国科学院自动化研究所 大口径 光学元件 表面微粒 在线检测
2017/10/26
近日，中国科学院自动化研究所精密感知与控制中心研究员徐德、张正涛在IJAC第4期发表了研究论文An Effective On-line Surface Particles Inspection Instrument for Large Aperture Optical Element。文章介绍了最新设计的一款新型紧凑检测仪，可用于快速检测LAOE表面的微粒污染，该仪器携带方便，实现在线检测。
中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所专利：利用双偏心圆原理的光学元件中心定位调整机构
中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所 专利 双偏心圆原理 光学元件中心定位调整机构
2017/4/12
专利名称:利用双偏心圆原理的光学元件中心定位调整机构。专利类别:发明专利。专利号: ZL 201510220471.8。第一发明人:陈忆。其它发明人:陈忆,李鹏志,戴松新,江海娇,姜明达,侯永辉,张凯。