搜索结果: 1-7 共查到“光电检测技术 元件”相关记录7条 . 查询时间(0.177 秒)
山东理工大学理学院光电检测原理与技术课件第5章 光学系统与专用光学元件。
镀膜元件面形变化的时间效应和湿度效应
薄膜 水致应力 面形 时间效应
2009/8/24
对镀制强激光薄膜的光学元件在外界环境中时,表面面形发生的变化进行了研究。理论分析了表面面形的变化机制，明确水致应力具有物理和化学两种形成机制,是改变镀膜元件面形的主要因素;实验研究了镀制激光高反膜的K9材料元件存放过程中面形变化趋势，发现这种趋势变化具有时间效应和湿度效应。
光学元件亚表面缺陷的全内反射显微检测
亚表面缺陷 全内反射 偏振
2009/8/24
光学元件亚表面缺陷的有效检测已成为高阈值抗激光损伤光学元件制造的迫切要求。基于全内反射照明原理开展了全内反射显微技术检测光学元件亚表面缺陷的实验研究。结果表明：全内反射显微技术可有效检测光学元件亚表面缺陷；入射光偏振态和入射角度会影响元件内界面下不同深度处驻波形式照明强度的分布，对于可见度发生明显改变的微小缺陷点能衡量出其一定的深度尺寸范围；利用显微镜精密调焦对界面下一定深度处缺陷成像，可知缺陷点...
大口径元件反射率的镜面扫描精密测量系统
光学测量 反射率 光腔衰荡
2009/2/19
为了测量高功率激光传输系统中大口径高反射率元件，研制了一种镜面扫描的精密测量系统。介绍了该系统的结构及其工作原理，分析了影响系统测量精度的因素，理论上估算的测量精度为2×10-5。在直腔下对该系统的性能进行了实验测试，分析表明，系统的测量不确定度优于2.052 28×10-5，最大测量误差为3.554 04×10-5，与理论预计结果吻合较好。对大口径元件进行的多次实验扫描测试，结果显示，镀膜加工误...
光学元件波前梯度的数值计算方法
波前梯度均方根 光学检测 傅里叶变换
2008/5/24
惯性约束聚变系统中光学元件的波前梯度均方根是一个关键参数，对其数值计算涉及到的空域处理、频域滤波及梯度算法等关键技术进行了理论分析。分别采用最简单差分算法、中心差分算法、最小二乘拟合算法、“五点法”对实测波前数据进行了梯度均方根值计算。结果表明波前数据的空域处理采用Quad-flip技术较为合适；频域滤波器的选用上应着重考虑滤波的有效性。对于原始波前，4种算法计算梯度均方根值的差别小于0.01 λ...
光学元件损伤在线检测装置及实验研究
学元件 光学损伤检测 暗场成像技术
2008/5/24
利用暗场成像原理，研制成功一套应用于大型激光装置的光学元件损伤在线检测装置，并在多程放大系统上进行了实验研究。与传统的检测手段相比，该检测装置可以实现对光学系统的在线检测，并可对损伤点的图像进行分析处理，最后提出通过减小像差和扩大检测范围的方法来改进该装置的检测效果。