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本发明提供一种数字集成电路辐射效应原位测试系统及测试方法，用于解决现有的辐射效应原位测试系统无法实现对数字集成电路的性能和功能进行全面测试的技术问题。测试系统包括驱动单元、采集单元及分析单元；采集单元包括SMU测试模块和至少一个数字向量测试模块，SMU测试模块用于为待测数字集成电路供电并采集待测数字集成电路的功耗电流；数字向量测试模块用于为待测数字集成电路输入电信号激励，并采集待测数字集成电路输出...
数字集成电路方向专注于大规模数字集成电路设计，主要包括：低功耗电路架构设计、嵌入式SRAM设计、GPS数字基带设计、可重构处理器架构等。
宁波大学2021年博士研究生自命题数字集成电路设计基础考试大纲
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2020/11/17
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宁波大学2020博士入学考试数字集成电路设计基础真题
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2020/10/13
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2019/12/16
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宁波大学2020年博士研究生自命题数字集成电路设计基础考试大纲
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2019/11/8
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宁波大学信息学院2018年博士入学考试数字集成电路设计基础试题
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2018/9/12
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中国科学院微电子研究所2018年博士入学数字集成电路考试大纲
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2017/11/30
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宁波大学信息学院2017年博士入学考试数字集成电路设计基础试题
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2017/10/13
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南京航空航天大学电子线路课件第七章 数字集成电路基本单元
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2016/11/16
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宁波大学信息科学与工程学院2017年博士研究生招生考试自命题数字集成电路设计基础考试大纲
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2016/11/8
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宁波大学信息学院2016年博士入学考试数字集成电路设计基础试题
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2016/10/18
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