工学 >>> 电子科学与技术 >>> 电子技术 光电子学与激光技术 半导体技术 电子科学与技术其他学科
搜索结果: 1-7 共查到知识库 电子科学与技术 数字集成电路相关记录7条 . 查询时间(0.418 秒)
数字集成电路方向专注于大规模数字集成电路设计,主要包括:低功耗电路架构设计、嵌入式SRAM设计、GPS数字基带设计、可重构处理器架构等。
针对目前集成电路具有高度的规律性的特点,提出了一种新的数字集成电路规律性结构提取算法,可自动对电路中一些重复出现的电路结构进行识别和提取.通过对两两相连的标准单元进行特征提取比较并产生二同构子电路,对出现频数较高的二同构子电路进行扩展产生电路结构模板,进而提取所有与该模板相似的电路结构.在算法运行过程中,通过不断地删除已经匹配的顶点,可加快程序运行的速度.该算法已应用于实际工程项目中,改变了传统的...
本文分析了高温CMOS倒相器和门电路的瞬态特性,建立了它们的上升时间,下降时间和延迟时间的计算公式。根据本文分析的结果,高温CMOS倒相器和门电路瞬态特性变差的原因是由于MOST阈值电压和载流子迁移率降低,以及MOST漏端pn结反向泄漏电流增大的缘故。本文给出的计算结果能较好地解释实验现象。
介绍了静态时序分析在数字集成电路设计中的应用,并以100M以太网卡芯片设计为例,具体描述了以太网卡芯片设计中的静态时序分析流程及其时序问题。
该型数字集成电路测试仪采用先进的单片微处理机技术。通过面板键盘的简单操作,即可迅速判断该集成芯片的好坏、逻辑功能是否正常,并中查询未知芯片的型号及其代用芯片型号和对该芯片进行动态老化等。该仪器具有体积小、重量轻、耗电省、携带方便、操作简单、显示明了、价格低廉等特点。
该仪器主要用于测试TTL、HTL、CMOS、HCMOS集成电路的直流参数和逻辑功能。机内固化2000多个被测件型号测试程序;具有变电源测试逻辑功能;测量微电流的精度较高,特别适合测量CMOS电路小电流参数。主要技术指标:加压:范围:-10-+20.475V;分辨率:5mV;误差:±(0.25%SET+0.1%fs)。加流:范围:0-250mA;分辨率:1.25nA;误差:±(0.25%SET+0....
内容简介、性能、指标:数字集成电路测试系统的功能特点:1.对已安装在印刷线路板上的集成电路,在线隔离它与电路板上其他芯片的电气连接,能够测试全系列TTL,CMOS中小规模数字集成电路,以及48脚以下常用大规模数字集成电路。2.系统软件能够自动分析被测芯片的外部连线,并且动态修改测试矢量,实现自适应在线测试,突破了过驱动技术的局限性。3.系统具有机器学习功能,用户可将电路板正常时的状态让计算机“学习...

中国研究生教育排行榜-

正在加载...

中国学术期刊排行榜-

正在加载...

世界大学科研机构排行榜-

正在加载...

中国大学排行榜-

正在加载...

人 物-

正在加载...

课 件-

正在加载...

视听资料-

正在加载...

研招资料 -

正在加载...

知识要闻-

正在加载...

国际动态-

正在加载...

会议中心-

正在加载...

学术指南-

正在加载...

学术站点-

正在加载...