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1-1
共查到
“
电子科学与技术 缺陷能级测试
”
相关记录1条 . 查询时间(0.102 秒)
中国科学院新疆理化技术研究所专利:一种基于低频噪声的GaN功率器件
缺陷能级测试
方法
中国科学院新疆理化技术研究所
专利
低频噪声
GaN功率器件
缺陷能级测试
2023/12/7
本发明涉及一种基于低频噪声的GaN功率器件
缺陷能级测试
方法,该方法采用选择GaN功率器件的低频噪声待测参数;确定GaN功率器件低频噪声
测试
的偏置条件;获得不同温度下待测参数的噪声功率谱密度;提取不同温度下的产生‑复合(G‑R)噪声;获得不同温度下G‑R噪声的峰值频率;基于G‑R噪声峰值中心频率及温度建立Arrhenius方程;基于Arrhenius方...
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