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受激辐射损耗(STED)荧光显微技术是德国科学家1994年提出的。经过20多年的发展，STED显微镜已经成为微纳光学成像检测领域最为强大的工具。其无与伦比的高分辨率使得人类能够突
受激辐射损耗超分辨成像技术研究
荧光显微成像 超分辨 受激辐射损耗
2015/10/20
受激辐射损耗显微成像(STED)是一种超分辨荧光显微成像技术,它能够突破传统光学衍射极限的限制,把远场光学分辨率提高到百纳米以内,被广泛应用于生物医学等领域,是目前光学显微成像领域研究的热点之一。采用了一种基于超连续谱皮秒脉冲白激光光源的STED显微系统,实现超分辨成像。并从精密合束、脉冲延迟和损耗光残留光强几个方面探讨系统优化,从而获得最佳的成像效果。对直径约25 nm荧光微球成像实验的数据表明...