搜索结果: 1-4 共查到“光电子技术 平面列阵”相关记录4条 . 查询时间(0.325 秒)
红外焦平面列阵探测器芯片的性能测试装置
测试装置 红外焦平面
2008/11/5
该实用新型涉及红外探测器的一种性能测试装置，特别是红外焦平面列阵探测器芯片的性能测试装置。在红外焦平面列阵探测器的制备过程中，列阵芯片的性能测试是必不可少的。该实用新型的目的为克服上述已有技术中存在的问题，将原来敞开式液氮致冷改为封闭式的液氮致冷，并能起到电磁屏蔽的作用：保证探针和像元的接触良好而不损坏电极：探针的移动用机械驱动，提高工作效率。该实用新型的解决方案是将芯片致冷部分、探针测量部分放入...
多色焦平面列阵探测器用红外列阵滤光片
滤光片 列阵探测器
2008/9/26
该成果应用了国际上光学薄膜和列阵器件前沿新技术，并提出了新颖的掩模分离和薄膜加工技术，研制出0.1×0.2毫米的微型滤光片列阵，该滤光片列阵在航天航空遥感领域具有重要应用前景。采用新技术在2.4×3.5毫米基片上集成了三通道短波红外微型滤光片列阵，从而成功地研制出四元三通道多光谱短波红外列阵探测器，该探测器对工业非接触式在线检测具有广泛的应用价值。
一种带有异形冷屏的红外焦平面列阵探测器
红外焦平面 列阵探测器
2008/9/19
一种带有异形冷屏的长列阵焦平面探测器，包括：杜瓦、焦平面长列阵器件、异形冷屏。光经过冷屏入射到焦平面长列阵器件上，形成光电流。冷屏和列阵器件装在杜瓦里，冷屏的形状专门设计，它既可以限制背景通量，借此降低背景光电流的散粒噪声，从而可以提高信噪比和探测率；又可以改善因列阵的长度所带来的探测率随位置的不均匀性。