首 页
学术站点
知识要闻
国际动态
人 物
研招资料
会议中心
学术指南
基本典籍
课 件
必读书目
视听资料
知 识 库
所有栏目
学术站点
知识要闻
国际动态
人物
研招资料
会议中心
学术指南
基本典籍
课件
必读书目
知识库
所有学科
材料科学
动力与电气工程
电子科学与技术
机械工程
信息与通信工程
船舶与海洋工程
化学工程
控制科学与技术
兵器科学与技术
光学工程
计算机科学技术
航空、航天科学技术
核科学技术
标题
作者
关键词
摘要
正文
单位
网址
任意词
工学
>>>
电子科学与技术
>>>
电子技术
光电子学与激光技术
半导体技术
电子科学与技术其他学科
搜索结果:
1-2
共查到
“
电子科学与技术 工艺波动耦合
”
相关记录2条 . 查询时间(0.093 秒)
中国科学院新疆理化技术研究所专利: 一种总剂量效应与
工艺波动耦合
的电路仿真方法
中国科学院新疆理化技术研究所
专利
总剂量效应
工艺波动耦合
电路仿真
2024/1/2
本发明涉及一种总剂量效应与
工艺波动耦合
的电路仿真方法,该方法包括总剂量效应关联
工艺
参数确定、晶体管总剂量辐照试验、晶体管电参数退化方程参数提取、不同
工艺
角晶体管总剂量效应模型生成、不同
工艺
角电路仿真。该方法的理论基础是晶体总剂量辐射损伤与
工艺波动
参数相关,总剂量辐射效应与
工艺波动
存在
耦合
效应。该方法的优势在于考虑总剂量效应与
工艺波动耦合
,准确仿真辐射环境工作集成电路特性。
存档文本
原文地址
文献传递
中国科学院新疆理化技术研究所专利:一种总剂量效应与
工艺波动耦合
的电路仿真方法
中国科学院新疆理化技术研究所
专利
总剂量效应
工艺波动耦合
电路仿真
2023/12/7
本发明涉及一种总剂量效应与
工艺波动耦合
的电路仿真方法,该方法包括总剂量效应关联
工艺
参数确定、晶体管总剂量辐照试验、晶体管电参数退化方程参数提取、不同
工艺
角晶体管总剂量效应模型生成、不同
工艺
角电路仿真。该方法的理论基础是晶体总剂量辐射损伤与
工艺波动
参数相关,总剂量辐射效应与
工艺波动
存在
耦合
效应。该方法的优势在于考虑总剂量效应与
工艺波动耦合
,准确仿真辐射环境工作集成电路特性。
存档文本
原文地址
文献传递
中国研究生教育排行榜
-
条
正在加载...
中国学术期刊排行榜
-
条
正在加载...
世界大学科研机构排行榜
-
条
正在加载...
中国大学排行榜
-
条
正在加载...
人 物
-
篇
正在加载...
课 件
-
篇
正在加载...
视听资料
-
篇
正在加载...
知识库
-
篇
正在加载...
研招资料
-
篇
正在加载...
知识要闻
-
篇
正在加载...
国际动态
-
篇
正在加载...
会议中心
-
篇
正在加载...
学术指南
-
篇
正在加载...
学术站点
-
篇
正在加载...