搜索结果: 1-15 共查到“会议中心 电子科学与技术 测试”相关记录15条 . 查询时间(0.248 秒)
2023年集成电路测试验证技术研讨会成功召开（图）
集成电路 测试验证
2023/11/22
2023年11月17日，由深圳市高新技术产业促进中心和深圳市龙岗区科技创新局指导，天芯互联科技有限公司和龙岗区城市建设投资集团有限公司共同主办的“2023年集成电路测试验证技术研讨会”在我市龙岗区智慧家园集成电路测试验证工程技术中心成功召开。
合肥工业大学微电子学院闫爱斌教授受国际测试会议亚洲分会组委会邀请，赴日本松江参加第七届国际测试会议亚洲分会会议IEEE ITC-Asia 23，并作题为《一种低开销双节点翻转自恢复锁存器》、《一种新型四节点镦粗硬度锁存器的设计》和《面向安全关键应用的高可靠低功耗双节点翻转恢复SRAM设计》的分组报告。
主动有为，踔厉前行！2022年中国半导体封装测试技术与市场年会顺利开幕！
半导体 封装测试 市场年会 CSPT2022
2022/11/18
主动有为，踔厉前行，共创封测产业新时代！2022年中国半导体封装测试技术与市场年会（第二十届，即CSPT2022）于2022年11月15日在江苏省南通国际会议中心盛大开幕。聚焦产业发展难题，抓住百年未有时机，引领行业向前发展。
成都市集成电路测试技术研讨会成功举办（图）
成都市 集成电路测试技术 研讨会
2021/7/1
2021年6月29日，成都市集成电路测试技术研讨会在成都国家芯火双创基地南区中心成功举办。本次活动由四川省集成电路产业联盟、成都市集成电路行业协会、苏州平山电子有限公司、成都哈斯特思机电设备有限公司、成都众仪科技有限公司主办，成都芯火集成电路产业化基地有限公司、国家集成电路设计成都产业化基地协办。活动现场，吸引30余位集成电路企业代表参会。
2018然后9月7日，第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛在南通举办。此次高峰论坛由集成电路产业技术创新战略联盟指导，由中国半导体行业协会、国家集成电路产业投资基金支持，由南通市人民政府与集成电路测试仪器与装备产业技术创新联盟合主办，由南通市电子信息产业联盟与通富微电股份有限公司联合承办。南通市副市长赵闻斌介绍了南通的历史环境和产业优势。当前，南通正全力打造“3+3+N”现代产业体系...
第八届上海市分析测试技术论坛暨华东联校分析测试研讨会在东华大学召开（图）
第八届 上海市 分析测试技术论坛 华东
2017/5/27
2017年5月25日至27日，第八届上海市分析测试技术论坛暨华东联校分析测试研讨会在我校松江校区召开。来自上海以及华东地区有关高校、科研院所、行业检测机构和企业的约250名代表参加，论坛由我校联合上海市分析测试协会、上海交通大学、华东理工大学共同主办，学校分析测试中心承办。副校长陈革出席会议开幕式并致辞。他代表学校对参会专家学者表示欢迎，并介绍了学校以及我校分析测试中心的基本情况与发展经历，希望通...
上海无线通信研究中心召开构建短距离无线通信测试中心研讨会（图）
无线通信 测试 研讨会
2010/3/19
2010年 3月18日上午，在上海经信委的建议下，上海无线通信研究中心组织召开构建短距离无线通信测试中心研讨会。研讨会由中心常委副主任赵建龙研究员主持，上海市经信委林晶处长、贺奇助理，上海市科委信息处缪军副处长、李甲主管和国内移动通信领域的专家共20余人参加了研讨会。
第一届SWAN测试技术研讨会顺利召开（图）
SWAN测试 研讨会
2009/12/28
2009年12月22日-23日，第一届SWAN测试技术研讨会在中科院微系统与信息技术研究所5号楼6楼会议室召开。大唐移动、中国电信、华为技术有限公司、中兴通讯、清华大学、中国科学技术大学、北京邮电大学、西安交通大学、东南大学、华中科技大学、电子科技大学以及安捷伦、思博伦、泰克等包括大学、运营商、设备商在内的近30家单位的代表出席了该次会议，会议由上海无线通信研究中心杨旸研究员主持。
EB-WiCO测试技术研讨会在上海无线通信研究中心召开（图）
EB-WiCO测试 研讨会
2009/11/5
2009年10月29日，中心科研人员与来自华东师范大学、上海大学、同济大学等单位的代表，在上海无线通信研究中心七楼会议室参加了由EB公司和中心联合召开的测试技术研讨会。首先，EB公司中国区销售与市场经理彭林庭简单介绍了EB公司的发展概况和研究方向。随后，EB公司的工程师就基于网络级无线环境下的测试及基于无线MIMO设备的OTA性能测试两大解决方案分别进行了阐述。会上大家踊跃发言，积极讨论，场面热烈...
“分布式远程集成测试平台研发”技术研讨会在中心召开
远程集成 测试平台 研讨会
2009/7/31
2009年7月28日，上海无线通信研究中心组织技术研讨会，对 "分布式远程集成测试平台研发" 项目的信道彷真以及业务测试技术展开深入的讨论，研讨会对该项目技术方案的完善起到了关键作用。
微系统所院科研装备研制项目“高功率微波在片测试系统”顺利通过验收
微波 测试系统 通过验收
2009/3/16
2月24日，由微系统所孙晓玮研究员承担的2006年度院科研装备研制项目“高功率微波在片测试系统”正式验收。验收会由院计划财务局田东生主持，微系统所科技处处长胡善荣出席会议。
2008IEEE电路与系统测试与诊断国际学术会议征稿（2008 IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis）
2008年 IEEE 电路与系统测试 诊断 国际学术会议
2008/4/23
ICTD08(2008 IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis )：电路与系统测试与诊断国际学术会议，是由IEEE电路与系统(CAS)协会发起组织并提供资助的国际会议，并得到中国电子学会、中国仪器仪表学会大力支持，该会议将在2008年10月25日-26日在中国最佳旅游城市成都市举办，具体...
2007年第十六届全国测试与故障诊断技术研讨会
电子、通信与自动控制技术
2007/4/19
为推进自动化测试、先进总线技术及故障诊断技术在航天、航空、兵器、船舶、核工业、电子及国防军事装备和工业领域的发展和应用，中国计算机自动测量与控制技术协会、北京航天测控技术开发公司、中国安捷伦科技有限公司、《计算机测量与控制》杂志社于2007年4月20日在四川成都联合举办"2007年第十六届全国测试与故障诊断技术研讨会"，全文截稿日期为2007年3月31日。