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本发明涉及一种组装式带电粒子二维成像探测器包括:微通道板单元、荧光屏、固定组装架以及密封视窗法兰单元;所述视窗法兰单元包括一视窗法兰,于法兰体轴向上的法兰孔处设有透视窗口,其为法兰视窗,于法兰体上设有贯穿法兰体的高压电极的接头;于视窗法兰单元内、法兰视窗的上方设置有固定组装架,荧光屏和微通道板单元通过固定组装架从下至上依次设置于法兰视窗的上方,法兰视窗、荧光屏和微通道板单元间留有空隙;荧光屏和微通...
中国科学院沈阳自动化研究所专利:一种SICM的相位调制成像模式扫描装置和方法
本发明是一种针对带电粒子束发生和应用领域真空设备中带电粒子束(团)的三维空间结构成像探测方法。该方法采用微通道板(MCP)和荧光屏组成成像探测单元,通过步进电机控制成像探测单元在带电粒子束的飞行路线上前后移动,通过记录一定时间内到达成像探测器前表面的带电粒子数量及其二维分布情况,实现对带电粒子束截面的成像探测。通过在MCP上加直流脉冲电压,可以得到带电粒子束的时间切片成像,获得短时间(最短可至10...
一种用于粒子成像的高速脉冲成像检测器,该检测器包括荧光屏、双层微通道板、绝缘底座和脉冲成形电路;荧光屏和双层微通道板分别固定在绝缘底座的两端,荧光屏与微通道板之间形成一间隔,荧光屏与微通道板的高压电源通过接线由脉冲成形电路(4)供给。任何具有一定动能的离子和电子在同样电场加速下,由于电子速度飞行时间要远远短于离子的飞行时间和其它噪音电子,当信号电子飞行到微通道板时,微通道板打开记录电子的荧光成像信...
一种数字成像管棒材缺陷无损探伤检测系统,其特征在于:所述的数字 成像管棒材缺陷无损探伤检测系统包括系统由待检工件台(1),上料传送 台(2),对接机构(3),高速检测台(4),分离机构(5),下料传送台(6), 分选机构(7),合格工件仓(8),不合格品仓(9),水循环系统(10),无 损检测仪器系统(11)和电气控制系统(12)。本发明的优点是:检测记录 能直观地显示出缺陷的大小和位置及其严重程...
中国科学院合肥物质科学研究院专利:场分立体视觉显示方法
本发明提供了一种用于电离总剂量辐照后光电成像器件随机电报信号的测试方法。该方法涉及装置是由暗室和样品测试板两部分组成。将样品测试板置于暗室内,将辐照后的CMOS图像传感器固定在样品锁紧座上,盖上遮光盖,接通电源,给样品测试板供电,通过计算机软件找到工作温度、像素电压、积分时间、采图频率、采图时长、窗口大小等条件与测试结果和试验数据量之间的关系,依据计算结果确定试验条件,完成随机电报信号的测试。本发...
中国科学院深圳先进技术研究院专利:一种人脸三维面形数字化测量系统
中国科学院深圳先进技术研究院专利:太赫兹成像装置和太赫兹成像方法
本公开提供了一种光电成像器件辐射损伤的分类方法,应用于图像传感器检测技术领域,包括:获取不同退火时间下光电成像器件采集到的暗场图像像素的暗电流数据,对满足预设条件的像素的暗电流数据进行样条插值,得到样条插值结果,对样条插值结果取切比雪夫零点,对切比雪夫零点进行拉格朗日插值,得到暗电流演变的多项式结果并将暗电流演变的多项式结果在预设坐标系中绘制成暗电流演变曲线,对于每两个不同的像素,分别将每两个不同...
本公开提供一种用于光电成像器件在轨运行后光电参数恢复的方法,光电成像器件在轨运行后受到高能粒子的辐射损伤,包括:S1,将所述光电成像器件置于表面覆有遮光单元的暗室腔体中;S2,利用温控系统调节所述暗室腔体至预设温度;所述温控系统至少包括信号处理电路、热敏电阻、散热元件、加热元件、模数转换器、多路模拟开关;S3,对所述光电成像器件进行预设时长的退火,记录所述退火的条件信息;S4,利用测试系统中的控制...
中国科学院深圳先进技术研究院专利:锥束CT扫描成像方法及系统
中国科学院深圳先进技术研究院专利:磁共振并行成像方法
中国科学院深圳先进技术研究院专利:磁共振成像系统的线圈、线圈的冷却装置及方法
中国科学院深圳先进技术研究院专利:磁共振成像方法

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