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搜索结果: 1-1 共查到光信息技术 在轨运行相关记录1条 . 查询时间(0.09 秒)
本公开提供一种用于光电成像器件在轨运行后光电参数恢复的方法,光电成像器件在轨运行后受到高能粒子的辐射损伤,包括:S1,将所述光电成像器件置于表面覆有遮光单元的暗室腔体中;S2,利用温控系统调节所述暗室腔体至预设温度;所述温控系统至少包括信号处理电路、热敏电阻、散热元件、加热元件、模数转换器、多路模拟开关;S3,对所述光电成像器件进行预设时长的退火,记录所述退火的条件信息;S4,利用测试系统中的控制...

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