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1-1
共查到
“
航空、航天科学技术 质量损失
”
相关记录1条 . 查询时间(0.094 秒)
真空紫外辐照引起的聚合物材料
质量损失
模型及实验验证
真空紫外辐照
聚合物材料
质量损失
扩散理论
2016/2/15
基于扩散理论及辐射化学反应理论,建立真空紫外(VUV)辐照引起的聚合物材料
质量损失
数学模型。采用分离变量法与特征函数展开法,获得材料中挥发物
质量
随辐照剂量变化的函数关系式。通过实验得到聚酰亚胺(PI)薄膜和聚酯(PET)薄膜的
质量损失
数据,拟合求解模型中的参数,验证模型的适用性。实验结果表明,该
质量损失
模型适用于PI薄膜及PET薄膜,借助该模型可预估VUV辐照引起的材料的
质量损失
。
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