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氧化锌基紫外光电探测材料与器件研究
氧化锌 紫外 光电探测器 响应度
2023/8/19
本项目属于信息领域半导体材料与器件方向。 针对如何提高紫外探测器性能的关键科学问题，本项目提出利用较高电场下绝缘层中的碰撞离化过程实现载流子倍增用于探测器增益的思想，获得了探测度达1.26*10^13cmHz1/2/W的氧化锌基紫外探测器，该探测度比现在常用于紫外探测的硅基探测器的相应值高一个量级以上。另外，提出利用金属-半导体界面的缺陷态捕获空穴的思想提高氧化锌基探测器的响应度，获得了响应度高达...
中国科学院国家纳米科学中心在钙钛矿-氧化锌异质结的光电性能研究方面取得重要进展（图）
钙钛矿 氧化锌 异质结 光电性能
2021/3/26
近日，国家纳米科学中心孙连峰课题组与谢黎明课题组合作，设计制备了一种三维钙钛矿-一维氧化锌（CsPbBr3-ZnO）p-n异质结。这种异质结表现出了优异的整流特性（整流比~106）。作为光电探测器，它覆盖了紫外到可见光波段。在254 nm的光照下可获得高的光电开关比（107）、响应度（3.5×103 A / W）、检测率（6.59×1014 Jones）和外量子效率（1.7×106 ％）。在473...
利用水热法制备了菊花状的氧化锌纳米棒, 并进行表征, 将纳米氧化锌掺入纳米金刚石中配制成电泳液, 超声分散后电泳沉积到钛衬底上, 再经热处理后进行场发射特性的测试.结果表明:未掺混的金刚石阴极样品的开启电场为7.3 V/μm, 在20 V/μm的电场下, 场发射电流密度为81 μA/cm2;掺混后阴极样品的场发射开启电场降低到4.7~6.0 V/μm, 在20 V/μm电场下, 场发射电流密度提高...
为了使新型薄膜太阳能电池结构中的ZnO纳米柱阵列能高效捕获光子与收集载流子,研究了提高ZnO纳米柱阵列的电导率和操控其光学性质的方法。使用电沉积方法在溶解有Zn(NO3)2、NH4NO3、Al(NO3)3的水溶液中制备了Al掺杂的ZnO纳米柱阵列。实验显示,通过控制电解液中NH4NO3的浓度可操控所制备的ZnO纳米柱阵列的直径、密度和间距。电解液中NH4NO3浓度的增加会导致所制备的ZnO纳米柱中...
铕掺杂纳米氧化锌晶体结构和荧光光谱的研究
荧光光谱 共沉淀法 能量传 拉曼光谱
2011/11/1
以醋酸锌、氧化铕、氢氧化钠为主要原材料，利用共沉淀法制备ZnO∶Eu3+纳米晶体。在X射线衍射谱中，只观察到氧化锌的峰，没有观察到氧化铕的特征峰。比较了ZnO和ZnO∶Eu3+拉曼光谱，在ZnO∶Eu3+样品拉曼光谱中观察到新的局部振动模。这些现象表明铕离子已经进入氧化锌晶格中。SEM形貌显示Eu3+离子掺入使ZnO晶体颗粒变小。利用荧光光谱仪测试ZnO∶Eu3+晶体激发光谱和发射光谱，发现氧化锌...
东南大学氧化锌电泵浦激光研究取得重要进展
东南大学 氧化锌电泵浦激光 研究 重要进展
2011/8/15
在国家杰出青年基金项目和“973”课题的支持下，我校生物电子学国家重点实验室徐春祥教授研究组在回音壁模（WGM）氧化锌紫外半导体激光器研制方面取得重要进展。8月3日，材料领域的顶尖期刊Advanced Materials（影响因子10.86）已在线发表了他们的最新结果( DOI: 10.1002/adma.201102184 )。这是该研究组在Applied Physics Letters对这种新...
铝钛共掺杂氧化锌透明导电薄膜的制备与性能研究
TAZO薄膜 透明导电薄膜 溅射压强 磁控溅射
2011/4/6
用直流磁控溅射法在玻璃衬底上成功制备出了铝钛共掺杂氧化锌(TAZO)透明导电薄膜,研究了溅射压强对TAZO薄膜的微观结构和光电特性的影响。研究结果表明,所制备的TAZO 薄膜为六角纤锌矿结构的多晶薄膜,且具有c轴择优取向。当溅射压强为7.5 Pa时,薄膜的最小电阻率为3.34×10-4 Ω·cm。薄膜的可见光区平均透过率大于89%。溅射压强对薄膜的电阻率和微观结构有显著影响。
不同氧气分压下的MOCVD法氧化锌薄膜生长
氧化锌 薄膜 MOCVD
2010/10/20
采用金属有机化学气相沉积方法,在不同氧气分压下,对硅衬底氧化锌薄膜材料生长做了研究。X-射线衍射方法对氧化锌薄膜的结晶质量做了比对测试。测试结果表明薄膜是沿着(002)方向生长。利用光荧光谱测试分析,对薄膜的发光特性做了研究,研究发现随着氧气分压增大,薄膜的紫外发光峰增强。通过原子力显微镜测试,对薄膜的表面形貌做了观察,发现结晶颗粒的平均粗糙度、均方根,以及平均直径随着氧气分压的增大呈现逐渐变小的...
利用GCR-170型脉冲激光器 Nd：YAG的三次谐波（355nm），以蓝宝石Al2O3 (0001)为衬底，在不同温度下采用脉冲激光沉积法(PLD)制备了ZnO薄膜。通过原子力显微镜（AFM）、Raman谱、光致发光（PL）谱、红外透射谱、霍尔效应和表面粗糙度分析仪对制备的ZnO薄膜进行了测试。分析了在不同衬底温度下薄膜的表面形貌、光学特性，同时进行了薄膜结构和厚度的测试。研究表明：衬底温度对Z...