搜索结果: 1-11 共查到“光学工程 衍射效率”相关记录11条 . 查询时间(0.098 秒)
双层BOE加工误差对衍射效率的影响分析
双层BOE 加工误差 衍射效率
2016/1/10
随着光学技术的发展，光、机、电一体化成为趋势，要求光学系统做到集成化、阵列化和小型化，二元光学元件由于它在光波变换上的卓越表现受到人们的青睐。双层二元光学元件在宽波段范围内的衍射效率非常高，但在加工时会产生很多种加工误差，比如：高度误差、周期误差、套刻误差等。文中基于标量衍射理论，对在加工中可能出现的高度误差、周期误差、套刻误差等误差以及其对衍射效率的影响进行充分分析，并进行MATLAB模拟。结果...
设计了一种错位双光栅色散元件,与条纹相机耦合实现了0.1~5 keV范围X射线时间分辨谱的测量.该色散元件由2 000 lp/mm和5 000 lp/mm两块子光栅在空间错位排布而成,低密度光栅测量低能段软X射线(100~1 000 eV),高密度光栅测量中能段软X射线(1 000~5 000 eV),通过空间错位实现能谱拼接.在同步辐射源上使用单色能点对其进行标定,获得了错位双光栅衍射效率的实验...
动态干涉仪的位相光栅衍射效率研究
光学干涉测量 动态干涉仪 位相光栅 衍射效率
2015/1/5
为了解决普通二维光栅在动态干涉术中光能量利用不足的问题,使用标量衍射理论和傅里叶分析法对矩形正交位相光栅和棋盘型位相光栅的衍射效率进行推导,分别对两种光栅的最佳工作级次选择策略进行研究。分析结果表明,当分光器件为矩形正交位相光栅时,应选择(0, ±1)级与(±1,0)级作为动态干涉仪的工作级次,光能量利用率达到54.4%;当分光器件为棋盘位相光栅时,应选择(±1,±1)级作为动态干涉仪的工作级次,...
X射线分光晶体高阶衍射效率标定方法
高阶衍射 X射线分光晶体 标定 X射线衍射仪
2013/4/3
包含高阶衍射的X射线分光晶体积分衍射效率是X射线光谱准确辨识、X射线分光晶体性能研究、X射线光谱定量测量和高分辨X射线单能成像的基础。基于X射线衍射仪，选择适当厚度的镍滤片和控制X射线管电压，极大地抑制Cu Kβ及韧致辐射，将X射线管光源Cu Kα单能化。以常用的X射线分光晶体季戊四醇[PET（002）]为样品，对X射线分光晶体的高阶积分衍射效率进行标定其结果表明，在 Cu Kα能点，PET（00...
与矩形槽和正弦槽光栅相比，锯齿槽光栅具有高的衍射效率，可采用全息离子束刻蚀和单点金刚石车削两种方法制造。首先，介绍了这两种方法的制造误差。然后，分析了这些制造误差对用于可见近红外和长波红外成像光谱仪的光栅衍射效率的影响，指出闪耀角误差、槽顶角误差和刻刀圆弧半径是影响锯齿槽光栅衍射效率的关键因素。为制作高质量成像光谱仪用光栅奠定了理论基础和指导。
严格耦合波法计算闪耀光栅衍射效率
散射矩阵 严格耦合波法 标量算法
2009/9/28
针对一般标量近似算法精度不高的问题，提出采用S矩阵的严格耦合波的方法计算光栅衍射效率。通过建立完整的闪耀光栅理论模型，对各分层电磁场进行傅里叶级数展开，采用散射矩阵方法求解各谐波系数，完成衍射效率计算。该方法已应用到红外光栅TE和TM 2种模式衍射效率的计算。分析了散射矩阵解决数值运算不稳定的原因，通过与标量近似计算方法进行比较，说明红外光栅衍射偏振特性。
衍射光学元件设计参数对束匀滑衍射效率的影响
衍射光学元件 束匀滑 衍射效率
2009/9/9
经过理论推导，分析了320 mm口径衍射光学元件在束匀滑实验中光强分布出现高级次衍射斑和元件实际衍射效率变低的原因，模拟计算得到了接近实验的光强分布。模拟分析发现:通过调整设计参数，如适当增加抽样点数，使设计时焦斑主瓣占输出计算窗口的比例减小至0.2以下，可以大大降低由于高级次衍射斑造成的衍射效率损失，控制在2%以内，使台阶分布式相位片实际衍射效率得到提高，在对口径为70及320 mm的台阶分布式...
多层衍射光学元件设计原理与衍射效率的研究
衍射光学 多层衍射光学元件 衍射效率 光学设计
2009/8/27
叙述了多层衍射光学元件的设计原理.通过对多层衍射光学元件结构、位相延迟表达式、材料选择匹配的研究，使得优化最大光栅高度后的多层衍射光学元件能够实现大幅度提高宽光谱范围内衍射效率的作用.其衍射效率在从g谱线（435.834 3 nm）到C谱线（656.272 5 nm）的可见光范围内的任何波长上的理论衍射效率均在99％以上，带宽积分平均衍射效率为99.7％，能够满足高质量成像光学系统应用的需要，并利...
设计了一种快速自动测试平面反射光栅相对衍射效率的新型系统。它采用连续光源照明，运用双联光栅光谱仪的结构型式，以N沟道增强型场效应管阵列(线阵NMOS)作为光电接收器件。运用光栅光谱仪的相关原理，对系统的测试原理进行了理论分析；并对光学系统进行了像质分析。分析得出，系统装置结构紧凑，电子学系统简化；不存在保证两光栅光谱仪的波长扫描同步问题，具有很好的波长重复性，精度易于保证；较之以往文献中的自动化方...
平面晶体积分衍射效率实验标定
X射线 晶体 扭摆曲线
2009/2/13
平面晶体谱仪是激光等离子体X光光谱重要诊断设备之一，X光光谱的半定量或定量化诊断需要对平面晶体的一些重要参数如积分衍射效率、晶体扭摆曲线半高宽等进行标定。利用北京高能物理研究所同步辐射室的3B3中能束线作为X光光源，对PET平面晶体进行了实验标定，并对实验标定结果进行了分析，得到了2.1~6.0 keV范围内各能点处的晶体衍射效率。实验结果与其它文献符合得很好。