搜索结果: 1-1 共查到“电子科学与技术 寿命评价试验方法”相关记录1条 . 查询时间(0.139 秒)
介绍了发光二极管（LED）的发展简史。提出可能影响LED可靠性的几种因素，主要有封装中的散热问题和LED本身材料缺陷。对于LED可靠性，主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性，一般采取加速实验的方法来测试推导LED寿命。介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价LED寿命的测试方法。在不同加速试验应力条件下测试了大功率LED可靠性，并建立了LED寿命的几种数学模型。最后根据具...
