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国外开发出可使用多种中子源的半导体软错误率评估方法
中子源 半导体 软错误率
2023/6/28
由日本京都大学科研人员负责的产学协同软错误研究团队,开发了一种可使用不同中子源获取半导体软错误率的方法。