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搜索结果: 1-1 共查到辐射物理与技术 氢离子辐照相关记录1条 . 查询时间(0.138 秒)
采用扫描电镜(ScanningElectronMicroscope,SEM)、导电原子力显微镜(ConductiveAtomicForceMicroscope,CAFM)、能谱仪(EnergyDispersiveSpectrometer,EDS)和纳米压痕等表征技术和方法,综合分析了130eV氢(H)离子辐照诱导的多晶钨(W)材料的辐照损伤行为。研究表明:H离子辐照剂量从1.0×1024ions?...

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