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本发明涉及一种用于光电成像器件光谱响应辐射损伤的测试方法,该方法涉及装置是由卤素灯光源室、单色仪、投射镜头、矩形分划板、反射镜、平行光管、成像物镜、三维样品调整台和待测光电成像器件制成,本发明利用单色仪输出均匀的单色光,并经过投射物镜将放置在平行光管焦面位置的矩形分划板照亮,再经过反射镜改变光路方向后射入到平行光管,平行光管输出的准直单色光通过成像物镜将矩形分划板成像到光电成像器件的光敏面上,根据...
本发明涉及一种提高器件抗电离辐射总剂量效应的方法,包括以下步骤:1)制作单层结构复合材料:2)制作多层结构复合材料:3)测量电子束在复合材料中的透射系数:4)采用蒙特卡洛粒子输运方法模拟计算材料的理论透射系数:5)修正电子透射系数;6)采用屏蔽效果最好的复合材料,在器件的相应芯片处进行二次封装。本发明在保证屏蔽效果最好的同时,使封装质量最小,可提高航天器器件抗电离辐射总剂量效应。
质子是空间辐射环境的主要成分,其引发微电子器件产生的单粒子效应(SEE)是造成航天器在轨故障乃至灾难性后果的主要因素之一。作为质子SEE机理研究的核心内容,质子SEE截面预测模型对于评估器件在空间中的抗辐射性能,进而保障航天器的可靠运行具有重要意义。近日,中国原子能科学研究院核物理研究所辐射效应研究团队开发出一种新的质子SEE截面预测模型,并通过实验证实了其可靠性。

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