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搜索结果: 1-2 共查到“光学工程 均匀性测量系统”相关记录2条 . 查询时间(0.568 秒)
中国科学院合肥物质科学研究院专利：高精度光辐射标准探测器空间响应均匀性测量系统和方法
由于大口径光学薄膜的应用越来越广泛，其吸收损耗的均匀性测量越来越重要。文中首次根据光热失调技术的基本原理，使用Visual Basic 6.0 编写控制程序，搭建一套采用连续激光作为加热光源的光热失调技术的实验系统，实现了样品表面各点光热信号的自动采集与处理，并根据测量结果绘制出用于相对吸收均匀性研究的图像。结果表明该实验系统实现了自动控制，运行稳定、测量准确，能够用于光学薄膜相对吸收均匀性的分析...

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