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本发明涉及一种用于焦平面成像器件绝对光谱响应的通用快速测量方法，该方法通过整幅图像输出来计算相对光谱响应，结合校准过的参考探测器，实现焦平面成像器件绝对光谱响应的测量；并以光阑对照射到参考探测器及焦平面成像器件上的光斑进行约束，使测量结果不受光斑形状、对称性、均匀性的影响。该方法相比于现有测量方法，解决了单色光均匀化后光强小、测量适用性差等问题，避免了焦平面局部缺陷对测量结果的影响，并且对测量设备...