搜索结果: 1-4 共查到“光学工程 光电成像器件”相关记录4条 . 查询时间(0.155 秒)
本发明提供了一种用于电离总剂量辐照后光电成像器件随机电报信号的测试方法。该方法涉及装置是由暗室和样品测试板两部分组成。将样品测试板置于暗室内，将辐照后的CMOS图像传感器固定在样品锁紧座上，盖上遮光盖，接通电源，给样品测试板供电，通过计算机软件找到工作温度、像素电压、积分时间、采图频率、采图时长、窗口大小等条件与测试结果和试验数据量之间的关系，依据计算结果确定试验条件，完成随机电报信号的测试。本发...
本发明提供了一种用于辐照后光电成像器件暗电流激活能测试方法。该方法涉及装置是由高低温箱和样品测试板两部分组成。将置于高低温箱中的样品测试板接通电源，然后调节高低温箱内的温度调节模块，达到目标温度后，保证测试样品与高低温箱环境温度一致，通过计算机中的采图软件，找出热像素灰度值达到饱和时对应的积分时间，确定为最大积分时间，等间隔选择10个小于最大值的积分时间，每个积分时间下采集10帧图像，完成不同温度...
本公开提供了一种光电成像器件辐射损伤的分类方法，应用于图像传感器检测技术领域，包括：获取不同退火时间下光电成像器件采集到的暗场图像像素的暗电流数据，对满足预设条件的像素的暗电流数据进行样条插值，得到样条插值结果，对样条插值结果取切比雪夫零点，对切比雪夫零点进行拉格朗日插值，得到暗电流演变的多项式结果并将暗电流演变的多项式结果在预设坐标系中绘制成暗电流演变曲线，对于每两个不同的像素，分别将每两个不同...
本公开提供一种用于光电成像器件在轨运行后光电参数恢复的方法，光电成像器件在轨运行后受到高能粒子的辐射损伤，包括：S1，将所述光电成像器件置于表面覆有遮光单元的暗室腔体中；S2，利用温控系统调节所述暗室腔体至预设温度；所述温控系统至少包括信号处理电路、热敏电阻、散热元件、加热元件、模数转换器、多路模拟开关；S3，对所述光电成像器件进行预设时长的退火，记录所述退火的条件信息；S4，利用测试系统中的控制...