搜索结果: 1-6 共查到“同位素技术 辐照”相关记录6条 . 查询时间(0.153 秒)
用32S离子辐照法研究聚酯膜在红外光区的抗反射性能
多层镀膜 抗反射 聚酯
2009/9/16
为研究圆锥形径迹孔与多层镀膜结合对改善材料在红外光区的抗反射性能的影响，采用HI-13串列加速器提供的32S离子分别辐照20 μm和50 μm厚的聚酯，用氢氧化钠和PEW溶液蚀刻后，两种聚酯表面的潜径迹成为孔径分别是0.5 μm和3 μm的径迹孔。在有径迹孔的样品表面，用真空蒸发依次镀上不同厚度的银、石墨和氟化镁或石墨和氟化镁。在2.5～10 μm波段的红外光区测量表面全反射。结果显示，有径迹孔的...
氚钛片辐照硅基半导体器件电学输出性能
氚钛片 辐射伏特效应同位素电池 电学输出性能
2009/5/11
制备了多个不同厚度金属钛膜吸附不同量3H的氚钛片，利用这些源片辐照硅基半导体器件，测试并分析了它们的电学输出性能。结果表明，这些氚钛片辐照硅基半导体器件可以输出电流，但由于金属钛对氚源β射线的阻挡，器件输出电流和最大输出功率与钛膜中贮氚量不呈正比增长关系，小的钛膜厚度有利于提高β射线能量利用率。
辐照元件中钚及钚同位素含量的核物理测定方法
辐照元件
2008/10/31
本工作研究了通过钚的α放射性和同位素组成而确定堆照元件中钚量及其各同位素含量的一般原理及方法。井以一种辐照元件的样品为例进行了具体应用。测定了一块元件中的9个切片的样品,获得了该元件中钚及各同位素含量的数据。实验结果与库仑滴定法测定的总钚量及同位素稀释质谱法测定的各切片相对燃耗值的变化的结果是一致的。本方法目前测定辐照元件中总钚量的不确定度约为±2.0％;对于一般的钚样品不确定度约为±1.5％。
重水反应堆辐照同位素取放装置
辐照 重水反应堆
2008/10/16
辐照同位素取放装置由工业电视、通讯设备、真空系统和旋臂吊车组成,能在反应堆满功率运行时从堆活性区垂直孔道内取放同位素样品罐。取放操作可以在远距离控制台上自动进行。该装置操作简单可靠,使用安全,可供从事反应堆运行和设计人员参考。
~(99)Mo-~(99m)Tc同位素辐照靶件研制
同位素辐照靶件 旋压
2008/10/16
本文叙述了用含10％~(235)U燃料棒芯体,研制~(99)Mo-~(99m)Tc同位素辐照靶件的制备工艺。研制工艺分为:将燃料芯体铝包壳用碱溶法减壁厚,芯体切割,压密合,旋压端塞,焊封以及质量检验等工艺。研制出的靶件经入堆考验和同位素分离等实验,证明性能良好,结构合理。为钼-鍀同位素实验研究和生产创造了有利条件。