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开展了星用双极器件及模拟电路的低剂量辐射损伤效应、损伤机理、评估方法的研究
介绍了一种变温辐照加速评估双极电路低剂量率辐照损伤增强效应的新实验方法，并对各种实验现象的潜在机理进行了分析。结果显示，阶跃降低辐照温度的变温辐照法，不仅能较好地模拟双极运放电路实际空间低剂量率的辐照损伤，且比美军标的恒高温辐照法的总剂量评估范围明显增大，还可作为快速鉴别器件是否具有低剂量率辐照损伤增强效应的有效实验方法。