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中国科学院上海光学精密机械研究所在大口径衍射透镜标定方面取得进展(图)
衍射透镜 标定方面 光学仪器
2023/10/13
大口径高光学均匀性次旋光玻璃研制
大口径 高光学 均匀性 次旋光玻璃
2023/8/23
上海光机所在大口径复杂曲面的超景深偏折测量技术方面取得新进展(图)
大口径复杂曲面 偏折测量 元件测量
2022/9/29
中国科学院上海光学精密机械研究所精密光学制造与检测中心在超精密光学大口径复杂曲面的偏折测量中取得新进展。研究首次提出了波前编码偏折测量技术,显著提升测量景深,消除偏折测量中位置-角度不确定问题,实现无需精确对焦条件的高精度面形测量。该研究成果大大提高了偏折测量技术的灵活性和精度,拓展了偏折测量技术在大口径元件测量时远距离测量的能力,为未来智能光学制造的发展打下基础。相关成果发表于Optics Le...
【Review】大口径强激光光学元件超精密制造技术研究进展(图)
惯性约束聚变 高功率固体激光 非球面磁流变加工 气囊高效抛光
2021/12/30
镜面结霜问题是以南极为代表的高寒地区天文光学仪器工作所面临的一个必须克服的难题。虽然南极冰穹A是全球水汽最低的地区,但是其相对湿度却常常达到饱和状态,镜面比环境温度低时,将会结霜。镜面上凝结的冰霜不仅降低了膜层的使用寿命还严重影响到望远镜的科学观测。因此,防霜、除霜问题变得非常重要。中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所通过CSTAR望远镜项目首次成功使用了天文望远镜ITO膜层防霜技术,但该技...
中国科学院上海光学精密机械研究所提出一种基于静态多平面相干衍射成像的大口径光学元件相位缺陷检测新方案(图)
中国科学院上海光学精密机械研究所 静态多平面相干 衍射成像 大口径光学元件 相位缺陷 检测新方案
2020/5/9
近期,中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光物理联合实验室朱健强研究员团队在大口径光学元件的相位缺陷检测研究方面取得新进展,提出了结合暗场成像和静态多平面相干衍射成像的新型检测方案,相关成果于5月7日发表于《应用光学》(Applied Optics)。
专利名称:大口径光学系统近场检测装置及其测量方法。专利类别:发明。申请日期:2018.05.08。专利号:ZL201810429564.5。第一发明人:寇松峰。其它发明人:叶宇;张志永;田源;顾伯忠。
近期,中国科学院上海光学精密机械研究所精密光学制造与检测中心研究团队在Φ600mm口径干涉仪绝对检测技术研究方向取得新进展,提出一种基于多表面干涉原理的原位绝对面形检测技术,实现Φ600mm口径干涉仪标准平晶绝对面形误差的原位测量,相关成果于2月26日发表在[Optics and Lasers in Engineering, 129, 106054 (2020)]。