搜索结果: 1-15 共查到“电子科学与技术 测量系统”相关记录15条 . 查询时间(0.248 秒)
中国科学院上海应用物理研究所专利：一种用于低能重离子的束团参数测量系统，以及一种频率谐振选能能量测量方法
中国科学院上海应用物理研究所专利：一种电子束低温发热测量系统
中国科学院上海应用物理研究所 专利 电子束 低温发热 测量系统
2023/7/21
中国科学院上海应用物理研究所专利：一种电子束低温发热测量系统
上海软X射线自由电子激光腔式束流位置测量系统
上海软X射线自由电子激光 腔式束流位置测量系统 性能评估
2020/10/20
上海软X射线自由电子激光装置（Shanghai Soft X-ray Free Electron Laser, SXFEL）需1个分辨率达到亚μm量级的束流位置测量系统，并采用基于束流准直的方法实现波荡器段电子束与光子束的紧密重合。为此设计研制了1个由C波段腔式探头、单路混频至低中频的射频前端以及自主研发的专用数字信号束流位置处理器（digital beam position monitor pr...
2017 SPIE 工业检验用光学测量系统会议（2017 Conference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X）
2017 SPIE 工业检验 光学测量 系统会议
2017/4/25
Conference Sessions 1: Interometric Techniques I Congress-wide Plenary Session 2: Interometric Techniques II 3: Digital Holography and Holographic Microscopy 4: OCT and Coherence Scanning 5: High-Spee...
基于SPI接口的温度测量系统
单片机 SPI接口 温度测量
2013/2/15
设计了基于SPI接口的温度测量系统,采用ATmega16单片机控制,TC72温度传感器采集温度,以及1602液晶屏进行数据显示。系统主要由温度传感器电路、LCD液晶显示模块电路、矩阵式键盘电路、报警电路和ATmega16单片机控制电路5个模块组成。ATmega16单片机根据TC72温度传感器检测到的温度,经一定的控制算法给出控制信号,通过LCD显示出检测温度的大小;矩阵键盘可以设定上限和下限温度,...
2012年IEEE虚拟环境、人机接口与测量系统（VECIMS 2012）国际会议在天津市汇高花园大酒店召开(图)
2012年 IEEE虚拟环境、人机接口与测量系统（VECIMS 2012）国际会议 生物医学工程、仪器科学与技术（图）
2012/7/9
2012年7月2~4日，由国际电气与电子工程师学会仪器与测量分会（IEEE Instrumentation & Measurement Society, IEEE I&MS）主办，天津大学承办的2012年IEEE虚拟环境、人机接口与测量系统国际会议（the 2012 IEEE International Conference on Virtual Environments, Human-Compu...
天线罩电厚度与材料电参数六端口测量系统设计
复反射系数 六端口 五端口结
2009/2/9
介绍了一个可用于天线罩电厚度与介质材料介电常数测量的六端口反射计系统，它由对称波导五端口结与定向耦合器组成，其关键部件波导五端口结用HFSS软件仿真与设计。介绍了天线罩相对电厚度复反射系数的测量方法。用该系统对滑动短路器复反射系数进行了测量，测量结果表明，系统工作稳定，测试精度高。利用短路波导法测量了材料介电常数和损耗角正切，测量结果显示：介电常数测量的精度和稳定度较高，损耗正切的测量误差较大。
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相对论电子束真实发射度在线磁扫描测量系统
磁扫描 狭缝 荧火靶 发射度相图
2009/2/6
介绍了清华大学研制的相对论电子束（4~10MeV）真实发射度的测量系统，利用该系统测量了4MeV驻波电子直线加速器的真实发射度，并且研究了该系统的测量误差和测量范围，实践表明，磁扫描方法测量发射度是切实可行的。
微波参数自动测量系统
自动测量系统 微波通信 微波测量
2008/11/12
该系统由微波波导测量线、步进电机、接口电路及微计算机构成，在工作软件支持下，可自动测量波导波长、驻波比、晶体检波律、反射系数、负载阻抗、二端口网络的S参数、介质常数，损耗正切、衰减、相移等常用微波参数，以及对信源和探针进行调配。系统以人机对话方式运行，操作简便，测量快速，精度高于人工测量；可给出数值解，也可图形显示；测二端口网S参数时，除给出数值解外，还能显示网络输入反射系数圆的拟合过程，甚为直观...
表面缺陷光电子测量系统
表面缺陷 测量系统 光电子
2008/9/23
该产品测量时间短；可在测量监视器上显示缺陷的三维外观图、深度等高线图，所选剖面及被测缺陷的参数，被测的缺陷剖面图可储存到数据库。产品用于核工业企业无接触自动测量核电站释热元件外壳表面缺陷的深度和剖面。
集成电路（IC）非接触式全场测量系统
光扫描三角测量 集成电路测量系统
2008/8/19
集成电路(IC)是当今世界科技、军事、工业、民用等领域最普遍应用和生产的器件，由于芯片质量的重要性，必须在生产线进行逐一检测，因此对测量系统有很高的要求。国外广泛使用的技术是光扫描三角测量技术，如美国的RVSI公司以及VIEWENGINEERING公司等，都是采用这一技术。
高功率微波辐射场功率密度测量系统
测量系统 辐射场 功率密度 高功率微波
2008/5/23
根据功率密度大、脉冲短、形状不规则的特点，研制出一种能适应各种条件下使用的高功率微波功率密度测量装置。从已有的测量手段出发，比较其不同原理和适用性，选定了峰值检波法。根据实际工作需要，着重从结构及测量的可靠性、降低系统误差等方面，进行优化设计。该装置采用矩形波导和可靠性高的耦合衰减，利用示波器进行测量。最后详细地给出了测量系统的标定方法。
分析了楔形镜和中性玻璃衰减片组对光束的衰减原理，采用反射式楔形镜作为无像差定量衰减器，并同时使用中性玻璃衰减片组微调光束能量。实验测量了LD泵浦激光模式发生器基模和高阶模条件下激光束的M2因子,结果表明：楔形镜反射式衰减器对光束质量无显著影响，将楔形镜第一次表面反射作为无像差定量衰减，入射角在0~55°范围内，单棱镜表面反射光束能量为入射光能量的4.3%，通过多块组合可以得到更大的衰减；...
基于掠入射法溶液浓度测量系统研究
2007/8/20
根据溶液浓度与其折射率的关系，提出用掠入射法测量溶液浓度的方法.利用其临界光线的折射角进行透明介质溶液浓度的精确测量，研发出测量实验系统.分析了临界光线的折射角与其浓度的关系，给出溶液浓度与折射角之间的简单数学解析式.用该系统对5%-80%的甘油溶液进行测量，结果最大绝对偏差小于0.003%.
激光多普勒效应回转体表面轮廓测量系统
2007/7/28
专著信息
书名
激光多普勒效应回转体表面轮廓测量系统
语种
中文
撰写或编译
作者
杜振辉,贺顺忠,蒋诚志,吕丽娜
第一作者单位
出版社
光电子芳す狻ol.14(9) p977-980 2003
出版地
出版日期
2003年
月
日
标准书号
介质类型
页数
字数
开本
相关项目
激光多普勒效应在地球物理勘探中地方法和理论研究