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近日，物理学院陈峰教授课题组发现，二维材料表面的缺陷可以增强多层二维材料间纵向电子迁移，该现象在光电响应、表面拉曼增强等领域均有应用价值。相关成果以“Enhancement of Out-of-Plane Charge Transport in a Vertically Stacked Two-Dimensional Heterostructure Using Point Defects”和“En...
中国科学院上海光学精密机械研究所参与项目“强激光光学元件表面缺陷精密检测技术及应用”荣获2017年度安徽省科技进步奖一等奖（图）
强激光 光学元件 表面缺陷 精密检测技术 2017年度 安徽省 科技进步奖 一等奖
2018/3/1
2018年2月23日，安徽省科学技术奖励大会在合肥召开。安徽省委书记李锦斌、中科院院长白春礼为重大科技成就奖获得者颁奖，中科院副院长相里斌出席大会。上海光机所作为第二完成单位、邵建达研究员作为第一完成人的项目”强激光光学元件表面缺陷精密检测技术及应用”荣获安徽省科技进步奖一等奖。根据安徽省科学技术厅最近发布的《2017年安徽省科学技术奖励评审委员会评审结果公告》，安徽省科学技术奖共评定一等奖18项...
为了明确氧碘化学激光器腔镜损伤的原因，对腔镜表面的缺陷进行了研究。利用扫描探针显微镜观察了激光器腔镜表面缺陷，分析了腔镜表面微观形貌，讨论了常见缺陷的形状及成因。然后，建立了简化的带污染物腔镜的模型。利用COMSOL Multiphysics软件对环形光束辐照腔镜进行了仿真计算。最后，给出了缺陷大小、功率密度和腔镜表面温度的关系，分析了吸附层对腔镜熔融损伤的影响。计算结果表明：腔镜表面污染物大小不...
针对微型显微镜镜头存在的圆弧表面缺陷,提出了一套圆弧表面缺陷检测系统,以提高镜头的表面质量。在传统的图像边缘检测中,加入了图像预处理和边缘检测的方法,更好地实现了对目标的轮廓提取。然后,利用面向对象的VC++编程工具结合图像检测方法,对提取到的合格镜头和缺陷镜头同时进行图像处理,以找出缺陷镜头圆弧的瑕疵。最后,根据同时对合格镜头和缺陷镜头进行图像处理取得的结果,判断合格与缺陷镜头的差别,提取出缺陷...
贴片电阻生产过程中的缺陷主要依靠人工在显微镜下检测,速度慢、长期成本高、误检率高.针对贴片电阻单元具有排列整齐、结构简单、图像灰度级少的特点,在贴片电阻图像二值化、边缘提取、直线检测基础上,以相邻电阻单元的相关系数作为电阻缺陷判别依据,提出基于子图投影匹配的快速缺陷检测方法.采用主分量分析法压缩图像数据量,提取缺陷特征,以基于支持向量机对贴片电阻缺陷进行分类并建立实验系统.缺陷检测及识别实验表明,...
基于机器视觉的小型金属部件表面缺陷检测方法研究与系统开发
机器视觉 表面缺陷检测 永磁体工件
2009/9/15
本文针对以Nd-Fe-B永磁体工件为代表的小型金属部件，研究了一种基于机器视觉技术的表面缺陷检测方法。其要点是利用模板匹配算法，通过求模板和子图像的互相关函数的最大值来确定目标的中心位置；再在目标的感兴趣区域内（ROI）进行基于最大类间方差（OSTU）算法的自适应阈值分割，以检出并统计缺陷；进而判别其合格与否。基于该方法设计了适用的光源系统，并利用V C++ 6.0完成了原型系统开发。通过实验证明...
减少光学元件亚表面缺陷的方法研究
化学刻蚀 Marangoni界面效应 亚表面缺陷
2009/8/27
针对强激光光学元件的应用要求，对光学材料在研磨和抛光过程中形成的亚表面缺陷进行了分析，并借鉴小工具数控抛光和Marangoni界面效应，提出采用数控化学刻蚀技术来实现光学表面面形和微结构形貌的高准确度加工.通过实验对亚表面缺陷的分布位置和特性进行了分析，实验验证了在静止和移动条件下Marangoni界面效应的存在.对材料的定量去除进行了实验，提出了亚表面缺陷的去除方法.
靶丸表面缺陷对功率谱影响的数值模拟
ICF 靶丸 颗粒缺陷
2009/8/24
对ICF靶丸表面“颗粒状”缺陷与功率谱的关系进行了理论研究，采用Matlab软件，数值模拟分析了靶丸表面颗粒的高度、粒径、分布、颗粒数目以及随机噪声等对功率谱曲线的影响。数值模拟结果表明：靶丸表面缺陷对功率谱影响较大，缺陷高度的增加、粒径的减小以及数目的增加都会导致功率谱起伏增大；同时，缺陷高度导致的功率谱起伏变化比缺陷粒径对功率谱的影响更为严重，而缺陷数目的增加不但导致功率谱起伏的增大，同时也引...
光学元件亚表面缺陷的全内反射显微检测
亚表面缺陷 全内反射 偏振
2009/8/24
光学元件亚表面缺陷的有效检测已成为高阈值抗激光损伤光学元件制造的迫切要求。基于全内反射照明原理开展了全内反射显微技术检测光学元件亚表面缺陷的实验研究。结果表明：全内反射显微技术可有效检测光学元件亚表面缺陷；入射光偏振态和入射角度会影响元件内界面下不同深度处驻波形式照明强度的分布，对于可见度发生明显改变的微小缺陷点能衡量出其一定的深度尺寸范围；利用显微镜精密调焦对界面下一定深度处缺陷成像，可知缺陷点...
光学元件亚表面缺陷偏振双向反射分布函数
亚表面缺陷 光散射 偏振双向反射分布函数
2009/8/24
利用琼斯散射矩阵,借助右手正交基组来表示入射场和散射场，推导出光学元件亚表面缺陷或微粒在不同偏振状态下的双向反射分布函数的表达式。给出了亚表面缺陷在不同入射角条件下，不同偏振状态下的双向反射分布函数与散射方位角之间的关系，以及不同入射角下p偏振入射产生的p偏振双向反射分布函数的3维散射图。结果表明:p偏振入射产生的p偏振双向反射分布函数强烈依赖于入射角、散射角和方位角，且随着入射角的增加，其最小值...
光学元件亚表面缺陷结构的蚀刻消除
化学刻蚀 Marangoni界面效应 亚表面缺陷 抛光
2008/5/24
针对强激光光学元件的应用要求，对光学材料在研磨和抛光过程中形成的亚表面缺陷进行了分析，并借鉴小工具数控抛光和Marangoni界面效应，提出采用数控化学刻蚀技术来实现光学表面面形和微结构形貌的高精度加工，对亚表面缺陷具有很好的克服和消除作用。通过实验对亚表面缺陷的分布位置和特性进行了分析，同时实验验证了在静止和移动条件下Marangoni界面效应的存在，对材料的定量去除进行了实验，提出了亚表面缺陷...