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X射线荧光光谱法测定模拟高放废液玻璃固化体中14种主、次量元素
Ｘ射线荧光光谱法 高放废液 次量元素
2008/12/19
研究模拟高放废液玻璃固化体的熔融制样条件。在日本理学３０７０ＥＸ射线荧光光谱仪上，采用标样回归法求取校正曲线常数和基体校正常数，建立起模拟高放废液玻璃固化体中１４种主、次量元素的分析方法。精密度（ＲＳＤ）为０．３％－４％。