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搜索结果:
1-1
共查到
“
半导体技术 LDD
”
相关记录1条 . 查询时间(0.077 秒)
0.8μm CMOS
LDD
器件可靠性实验和分析
亚微米LDD器件
模拟
可靠性
2009/9/1
针对实验中发现的亚微米
LDD
结构的特殊的衬底电流现象和退化现象,进行了二维器件数值模拟,解释了
LDD
器件退化的原因,最后提出了
LDD
器件的优化工艺条件。
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