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本文介绍了一种发光二极管（LED）芯片非接触在线检测系统。阐述了检测系统工作原理及检测系统构成。系统采用C8051F020单片机进行控制，利用LED p-n结的光生伏特效应，通过对光生伏特效应中产生的光生短路电流的测量，实现对LED芯片质量及芯片与引线支架电气连接状态的检测。通过对常用LED芯片测量的实验结果表明，该系统能快速有效的对封装过程中的LED芯片状态进行非接触检测。
LED芯片在线检测方法研究
LED芯片 在线检测 p-n结光生伏特效应 法拉第定律 磁芯
2010/4/12
对于封装过程中的LED芯片的检测目前还没有行之有效的方法，基于p-n结的光生伏特效应和法拉第定律，提出一种非接触式的针对LED封装过程中芯片质量及芯片与支架之间连接状态的检测方法。根据实际LED芯片所处的闭合短路状态，感应回路由绕在高磁导率条形磁芯上的多匝线圈构成。磁芯采用不同搭接方式以提高检测的信噪比，根据实验结果确定了磁芯的最佳搭接方式。实验结果表明，该方法具有较高的检测精度，可以实现对闭合短...