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中国科学院上海应用物理研究所专利：加热式薄膜X射线衍射仪样品台及X射线衍射仪
基于X射线衍射仪的X光晶体本征参量的标定
标定方法 X光晶体 本征参量 X射线衍射仪
2012/1/12
X光晶体本征参量的实验标定是准确鉴定X光晶体种类和品质,研制各种类型晶体谱仪,X光线谱定量测量和高分辨X光单能成像的基础.基于X射线衍射仪,通过制作平面晶体样品架,采取控制X射线管电源、滤波片选取和厚度控制等措施,极大地抑制了Cu-Kβ及韧致辐射,使X射线管光源Cu-Kα单能化,提出了用滤片作为光源单能化的判据.对X光线谱测量中常用的X光分光晶体季戊四醇的晶格常量2d和Cu-Kα能点的积分衍射效率...
多晶X射线衍射仪的技术进展
技术 多晶X射线衍射仪
2008/5/7
简要介绍了近几年来多晶X射线衍射仪的光源、测角仪、样品台、光学系统、附件、检测器和应用软件方面的技术进展和用途扩展情况。