搜索结果: 1-9 共查到“近场光学及纳米检测技术 专利”相关记录9条 . 查询时间(0.882 秒)
本发明提供一种基于同步光源的X‑射线遗传标记探针的制备方法，该制备方法包括以下步骤：1)构建同时包括酶和目的蛋白的融合表达质粒，并将所述融合表达质粒转染进入细胞；2)使用戊二醛固定液冰浴固定所述细胞；3)加入底物分子反应液，冰浴反应；4)去除反应液，使用固定液固定细胞；以及5)同步X射线成像观察；其中，所述酶具有针对所述底物分子的催化活性。本发明还提供一种根据上述制备方法制得的基于同步...
中国科学院微电子研究所专利：利用平行光测量衬底反射率和透射率的宽光谱光学量测系统
中国科学院物理研究所专利：中红外光的全谱测量方法和相应的装置
中国科学院物理研究所专利：一种用于选择定则禁止声子模式的探测方法
专利名称:大口径光学系统近场检测装置及其测量方法。专利类别:发明。申请日期:2018.05.08。专利号:ZL201810429564.5。第一发明人:寇松峰。其它发明人:叶宇;张志永;田源;顾伯忠。