工学 >>> 光学工程 >>> 光学仪器及技术 >>> 光计量技术 >>>
搜索结果: 1-1 共查到光计量技术 专利相关记录1条 . 查询时间(0.596 秒)
2011年6月17日获悉,中科院西安光学精密机械研究所“一种畸变测试仪”获得国家发明专利授权,专利号为“ZL200810151034.5”。

中国研究生教育排行榜-

正在加载...

中国学术期刊排行榜-

正在加载...

世界大学科研机构排行榜-

正在加载...

中国大学排行榜-

正在加载...

人 物-

正在加载...

课 件-

正在加载...

视听资料-

正在加载...

研招资料 -

正在加载...

知识要闻-

正在加载...

国际动态-

正在加载...

会议中心-

正在加载...

学术指南-

正在加载...

学术站点-

正在加载...