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透射电子显微镜是目前对材料进行微观组分和结构表征的重要研究手段。在扫描透射模式(STEM)下,通过高角环形暗场像(HAADF)与电子损失能谱(EELS)结合,虽然可以在原子尺度上同时获得材料的原子数衬度像和谱学信息,但是HAADF像对轻元素探测不敏感。在TEM模式中虽然相位衬度像对轻元素比较敏感,但目前没有有效方法通过与EELS联用同时获得高分辨可量化的轻元素相位像 (Phase imaging)...

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