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搜索结果: 1-1 共查到半导体测试技术 He Ion相关记录1条 . 查询时间(0.112 秒)
In this work, Wurtzite GaN films were implanted with 15KeV, 55KeV and 150KeV He ion respectively with various doses at room temperature. One of the groups of samples were annealed at 750 0C for 20 min...

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