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薄壁快脉冲252Cf裂变电离室的研制及性能测试裂变 252Cf 薄壁快脉冲 2009/10/29

介绍了用于中子探测器效率刻度的薄壁快脉冲252Cf裂变电离室。在用飞行时间法测量中子能谱时，该裂变电离室能够给出252Cf裂变中子发射时刻信号，输出脉冲上升时间约为5.5 ns，电离室由厚度为0.15 mm的不锈钢构成。测试结果表明，对裂变碎片的探测效率为99.2%， α粒子脉冲幅度和碎片脉冲幅度可清晰分开。