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搜索结果: 1-4 共查到光谱技术 XRD相关记录4条 . 查询时间(0.031 秒)
以粉煤灰为原料,采用优化的水热晶化一步法合成沸石。比较晶化反应过程沸石产物CEC值及化学成分的变化,推断固液体系中物质转换及元素迁移方式和途径。借助XRD,SEM,FTIR等表征反应过程沸石的晶型变化及成核特性,提出可能存在的沸石生成机制。合成产物主要为NaP1型沸石,反应24 h后CEC值最大为135 mmol/100 g。12 h后,产物中初步发现NaP1沸石相特征峰和亚晶结构,48 h后出现...
以三聚氰胺甲醛树脂预聚体为氮源、碳源,以乙酸钴为金属前驱体,制备氮掺杂碳载钴氧还原电催化剂。利用傅里叶变换红外光谱与热重联用(thermogravimetry-fourier transform infrared spectroscopy, TG-FTIR)、X射线衍射光谱分析(X-ray diffraction spectra, XRD)等研究了催化剂的制备过程和结构,采用旋转圆盘电极测试(ro...
以福建龙岩高岭土为主要原料,用沉降的方法得到平均粒径为1.75 μm的沉降高岭土。用DMSO插层高岭土,后用苯乙烯单体取代前驱体中的DMSO分子,产物经四氯化碳洗涤后,在马弗炉中270 ℃本体聚合2 h得到高岭土/聚苯乙烯复合物。红外在1 453,1 499和1 606 cm-1的吸收振动峰证明了聚苯乙烯的存在。XRD结果显示高岭土层间距0.712 nm,苯乙烯聚合后片状结构已经被剥离。热重显示聚...
对用X射线衍射法计算4H-SiC外延中的位错密度方法进行了理论和实验研究。材料中的位错密度大于106 cm-2会给材料位错密度的测试会带来一定的困难。首先从理论上分析了位错密度对X射线衍射结果的影响,得出位错密度和峰宽FWHM展宽的关系。然后对4H-SiC样品进行了X射线三轴晶ω-2θ测试,采用不同晶面衍射峰,计算出样品的位错密度。分析了外延中位错产生的原因,并提出了相应的解决办法。

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