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搜索结果: 1-2 共查到光信息技术 HgCdTe相关记录2条 . 查询时间(0.049 秒)
为了评定基于室温中红外HgCdTe光导探测器的氟化氘激光阵列靶斑仪系统的测量不确定度,需要对HgCdTe光导探测器响应率的温度特性进行定量分析.理论分析了室温中波红外HgCdTe光导探测器响应率与温度和波长的关系,得出了在一定范围内探测器响应率可以近似表示为温度和波长变量分离函数形式的假设.采用波长为3.8 μm和1.31 μm激光光源,分别测量了在-40℃~+30℃温度范围内室温中波红外HgCd...
研究了HgCdTe液相外延薄膜的组分均匀性对器件响应光谱的影响。提出了一种计算HgCdTe红外探测器响应光谱的方法,考虑了HgCdTe液相外延薄膜的纵向组分分布和横向组分波动,以及光在器件各层结构中的相干、非相干传输。使用该方法计算了响应光谱的峰值响应率和截止波长ε液相外延HgCdTe的互扩散区厚度Δz和组分均方差σ的变化规律。结果表明:对于一般的HgCdTe外延薄膜,σ小于0.002,不需要考虑...

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